2011年在匹茲堡，布魯克推出了E - FLASH HR??，分辨率高，第三方電子顯微鏡的電子背散射衍射分析（EBSD）的高靈敏度探測器。結合收益率Zui低的模式失真的高品質相機光學接近200萬像素的分辨率（1600 × 1200像素），E - FLASH人力資源是解決EBSD分析的??Zui艱巨的任務，如低光束電流和選擇的工具，低加速電壓的應用，不善進行樣品分析，納米材料的分析，晶格應變調查，相鑒別和多。
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