型號：Kestrel 200
放大倍率選配件：x10倍、x20倍*、x50倍
底部光照明裝置：30瓦，底部光
測量范圍：X 150毫米 Y 100毫米
平臺玻璃Zui大負荷：10公斤
譯碼器分辨率：1.0μm
產(chǎn)品描述：Kestrel優(yōu)異的光學成像甚至能在反差小的元器件上測量到難以觀察的形狀，例如黑色的或透明的塑料 Kestrel二坐標測量系統(tǒng) - 綜述 英國工業(yè)顯微鏡有限公司的Kestrel 200光學測量顯微鏡為精密元器部件，提供快捷和精確的2-坐標測量。
從簡單的手工、單一特性作業(yè)至較復雜的元器部件測量，Kestrel 200把高分辨率、高對比度光學成像與直觀的微處理器相結(jié)合，為廣泛的測量應用，提供準確性和簡易性。Kestrel優(yōu)異的光學成像甚至能在反差小的元器件上測量到難以觀察的形狀，例如黑色的或透明的塑料。
- 2-坐標非接觸式測量
- 專利的光學成像明確地辨別輪廓，提供卓越的分辨率和對比度
- 強勁和直觀的微處理器給予簡易的、快捷的測量結(jié)果
- 成像采集選配件高精度，低投資系統(tǒng)
測量不確定性 |
不確定性公式U952D = 7+(6.5L/1000)μm，其中L = 長度(mm)，在標準測量平面使用受控條件 – 使用放大倍率100倍。 縮短測量長度可獲得更高的準確性。 |
光學 |
專利的雙光瞳單視場可不斷地矯正光學系統(tǒng)，十字坐標線有助于雙眼觀察。
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放大倍率選配（系統(tǒng)集成） |
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測量平臺 |
精密測量平臺，并通過非線性誤差修正（NLEC）方法對平臺進行出廠前的規(guī)定校準。 |
測量范圍(X, Y) |
150毫米 x 100毫米（Zui大載荷10公斤） |
高度調(diào)整 |
高度調(diào)整范圍100毫米。 |
編碼器分辨率 |
X = 1μm Y = 1μm |
照明裝置 |
雙半同軸聚光燈或冷光、經(jīng)矯正的色溫LED表面光照明。
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