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由于該產(chǎn)品已進行多次功能升級和更新迭代，我們不保證XJ-58C科研級明暗場正置金相顯微鏡提供的圖片和各項參數(shù)等信息均為最新，我們建議您點擊此處聯(lián)系我們的在線工程師為您服務，同時我們也歡迎您電話咨詢：!
產(chǎn)品概述
XJ-58C科研級明暗場正置金相顯微鏡配有電動調(diào)焦的載物臺、落射照明器、無限遠明暗場長距平場物鏡和大視野目鏡的頂級配置。具有外形厚實，圖像清晰度高、操作方便等特點，同時配有暗場裝置及偏光裝置，可實現(xiàn)暗場和偏光觀察，是一款多功能工業(yè)檢測顯微鏡。適用于薄片試樣的金相、礦相、晶體、硅片、電路基板、FPD等結(jié)構(gòu)分析和研究，或用于觀察材料表面特性，如：劃痕、裂紋、噴涂的均勻性等分析研究。是金屬學、礦物學、精密工程學、電子學、半導體工業(yè)、硅片制造業(yè)、電子信息產(chǎn)業(yè)等觀察研究的理想儀器?？偡糯蟊稊?shù)：50X-500X
◆性能特點：
1、采用了Zui為先進的無限遠光路設計，提供了卓越的光學系統(tǒng)。
2、配置了偏光、暗場裝置、可選配微分干涉裝置，拓展了功能。
3、系統(tǒng)配置了電動調(diào)焦載物臺，高清相位模塊、高亮度LED照明。
4、采用大視野目鏡和明暗場長距平場物鏡，視場平坦,成像清晰。
5、整機采用了防霉處理，保護了鏡頭，延長了儀器的使用壽命。
6、兩路光路自由切換輸出，一路用于觀察，一路連接攝像裝置。
◆典型應用：
1、電子工業(yè)制造業(yè)對硅片、電路基板、FPD、PCB板、芯片檢驗。
2、觀察材料表面的某些特性，3、分析金屬、礦相內(nèi)部結(jié)構(gòu)組織
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| 序號 | 名 稱 | 參數(shù) |
| 01 | 光學系統(tǒng) | 無限遠光學系統(tǒng)，鏡筒透鏡f=200mm |
| 02 | 觀察鏡筒 | 三目鏡筒（帶有0.3XCCD適配鏡） |
| 03 | 目 鏡 | 1、超寬視場平場目鏡WF10X/26mm2、WF10X/22mm，帶0.1mm十字分劃板 |
| 04 | 超長工作距離平場無限遠明/暗場物鏡： | 5X/NA0.20(W.D=14.47mm)、10X/NA0.25(W.D=16.0mm)、20X/NA0.40(W.D=10.5mm)、50X/NA0.55(W.D=5.1mm) |
| 05 | 物鏡轉(zhuǎn)換器 | 帶DIC插孔的五孔轉(zhuǎn)換器 |
| 06 | 載物臺 | 精密測量平臺，工作臺尺寸：150X150mm 移動范圍50mmX50mm， |
| 07 | 濾色片 | 濾色片（綠、藍、中性） |
| 08 | 調(diào)焦 | 電動調(diào)焦 |
| 09 | 光源 | 透射照明： LED燈5W,寬電壓AC85V—260V,亮度連續(xù)可調(diào) 反射照明：科勒照明鹵素燈12V50W,寬電壓AC85V—260V,亮度連續(xù)可調(diào),帶孔徑光闌和視場光闌 |
| 10 | 偏光裝置 | 檢偏鏡可360度旋轉(zhuǎn)。起偏鏡、檢偏鏡均可移出光路 |
| 11 | 檢測工具 | 標準標尺：0.01mm測微尺 |