景通顯微鏡報價網友情提示：
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一、儀器的主要用途和特點
XPF400C型透射偏光熔點測定儀是地質、礦產、冶金、石油化工、化 學纖維、半導體工業(yè)以及藥品檢驗等部門和相關高等院校的高分子...等專業(yè)Zui常用的專業(yè)實驗儀器。可供廣大用戶作單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察以及顯微攝影，來觀察物體在加熱狀態(tài)下的形變、色變及物體的三態(tài)轉化。
本系統(tǒng)廣泛應用于高分子材料、聚合物材料等化工領域，適用于研究物體的結晶相態(tài)分析、共混相態(tài)分布、粒子分散性及尺寸測量、結晶動力學的過程記錄分析、液晶分析、織態(tài)結構分析、熔解狀態(tài)記錄觀察分析等總多研究方向。
偏光顯微熔點測定儀XPF400C系統(tǒng)匯集了光電、模式識別、精密加工、圖象學、自動控制、模量學等總多研究領域的當前領先技術，多年研究開發(fā)的結果，在國內享有絕對領先.本儀器的具有可擴展性，可以接計算機和數(shù)碼相機。對圖片進行保存、編輯和打印。
二、系統(tǒng)數(shù)字性
XPF400C型偏光熔點儀系統(tǒng)是將精銳的光學顯微鏡技術、先進的光電轉換技術、尖端的計算機成像技術和精密的溫控技術完美地結合在一起而開發(fā)研制成功的一項高科技產品?？梢栽谟嬎銠C上很方便地觀察不同溫度下的偏光效果圖像，并對偏光圖譜進行分析,處理,還可輸出或打印偏光圖片。
三、儀器的主要技術指標
1.顯微鏡技術參數(shù):
名稱 | 規(guī)格 |
總放大倍數(shù)： | 40X---630X |
無應力消色差物鏡 | 4X/0.1 |
10X/0.25 | |
25X/0.40 | |
40X/0.65 彈簧 | |
63X/0.85 彈簧 | |
目鏡 | 10X 十字目鏡 |
10X 分劃目鏡 | |
試片 | 石膏 1λ 試片 |
云母 1/4λ 試片 | |
石英楔子試片 | |
測微尺 | 0.01mm |
濾色片 | 藍色 |
帶座目鏡網絡尺 | |
移動尺 | 移動范圍 30mm×40mm |
鏡筒 | 三目觀察 |
2.熔點儀技術參數(shù):
熱臺組成 | 性能 |
顯微精密控溫儀 | 在 20倍物鏡下工作溫度可達到Zui高300 ℃ 、溫度運行程序全自動控制；溫度程序段由用戶自行設定， 30段溫度編程，循環(huán)操作，能準確反映設定溫度、爐芯溫度、樣品的實際溫度。每段設定起始溫度，及在該段內可維持時間，升溫速率可調、精度 ± 0.3 ℃、記憶點讀數(shù) |
顯微加熱平臺 | 可以隨載物臺移動、工作區(qū)加熱面積大、透光區(qū)域可調、工作區(qū)溫度梯度低于± 0.1 |
| 注意： 熔點測定（溫度超過100度時，25X的物鏡工作距離 太近，容易損壞鏡頭，請選用長工作距離的物鏡25X、40X的物鏡） | |
四、系統(tǒng)組成
1、偏光顯微鏡 2、適配鏡 3、攝像器(CCD) 4、采集卡 5、計算機（選配)
五、選購件：
1、150萬像素成像器
2、偏光顯微鏡分析軟件
3、100X無應力消色差物鏡（帶浸油1瓶）