原子力顯微鏡（ AFM ）的原理是應(yīng)用針尖與樣品表面原子間的微弱作用力來(lái)作為反饋信號(hào)，保持針尖——樣品間作用力恒定，同時(shí)針尖在樣品表面掃描，從而得知樣品表面的高下起伏。
AFM 的基礎(chǔ)構(gòu)造與 STM 類(lèi)似，原子間作用力的檢測(cè)重要由光杠桿技巧來(lái)實(shí)現(xiàn)。假如探針和樣品間有力的作用，懸臂將會(huì)曲折。為檢測(cè)懸臂的渺小曲折量（位移），采取激光照耀懸臂的尖端，四象限探測(cè)器就可檢測(cè)出懸臂的偏轉(zhuǎn)。
通過(guò)電子學(xué)反饋體系使曲折量堅(jiān)持必定，即把持掃描管Z 軸使作用于針尖——樣品間的力堅(jiān)持必定。在掃描的同時(shí)，通過(guò)記載反饋信號(hào)就可以得到樣品表面的形貌。
本文地址:http://www.hkxccw.cn/old_version/books/tech/487.html
出自: 顯微鏡報(bào)價(jià)網(wǎng) 轉(zhuǎn)載時(shí)請(qǐng)標(biāo)明出處.
如果您有任何需求或疑問(wèn)，歡迎您來(lái)電與我們?nèi)〉寐?lián)系！
郵件與傳真
